-
島津ICP采用的晶體管固態高頻發生器，是目前商品化ICP光譜儀中，體積Z小、重量Z輕的發生器。霧化效率高，達到65%。所以，載氣可以用工業氬氣（99.95%），而無需使用高價的高純氬氣（99.999%）。
ICPE-9000是全新全譜直讀型ICP，采用二維交叉色散光譜，100萬像素CCD檢測器，實現快速檢測。*的小炬管設計，更可以節省氬氣40%。
-
電感耦合等離子發射光譜儀介紹：
ICP發射光譜儀作為一個分析儀器應用范圍很廣。它的特點是具有ppb級別的檢測能力，5-6個數量級的檢測濃度范圍，并且可以批量處理多種元素。隨著ICP的廣泛使用，人們對縮短分析時間和改善復雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。為此，我們開發了兩種類型的產品，使用半導體檢測器的全譜直讀型以縮短分析時間，和高分辨順序掃描型產品改善檢出限。
-
日本共立紅磷檢測儀描述之規格：
原 理 吸光光度法（LED光電二極管）
顯 示 器 防水型液晶顯示器
精 確 度 ±8% 以內（一定條件下標準液比對）
再 現 性 ± 5% 以內（一定條件下標準液比對）
采樣裝置 3 ml塑料瓶 （測定時僅須1.5ml）
-
電子天平介紹：
深圳市華得隆電子天平的靈敏性，就是天平能覺察出放在天平衡量盤上的物體質量改變量的能力。電子天平的靈敏性，可以通過角靈敏度，或線靈敏度，或分度靈敏度，或數字（分度）靈敏度來表示。對于電子天平，主要是通過分度靈敏度，或數字靈敏度來表示的。天平能覺察出來的質量改變量越小，則說明天平越靈敏，可見對于電子天平來說，天平的靈敏度依然是判定天平優劣的重要性能之一。
-
涂層測厚儀描述：
本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬體。
-
島津微焦X射線透視檢查裝置SMX-1000/1000L
MX- 1000/SMX-1000L采用FPD（數字式平板檢出器）和密閉式微焦點X射線管球，可以得到沒有變形和重影的清晰的透視圖像。另外，設備操作軟件在 檢查樣品種類后就可自動設定檢查條件，通過簡單操作就可高效地完成作業。
島津ICP采用的晶體管固態高頻發生器，是目前商品化ICP光譜儀中，體積Z小、重量Z輕的發生器。霧化效率高，達到65%。所以，載氣可以用工業氬氣（99.95%），而無需使用高價的高純氬氣（99.999%）。 ICPE-9000是全新全譜直讀型ICP，采用二維交叉色散光譜，100萬像素CCD檢測器，實現快速檢測。*的小炬管設計，更可以節省氬氣40%。
電感耦合等離子發射光譜儀介紹： ICP發射光譜儀作為一個分析儀器應用范圍很廣。它的特點是具有ppb級別的檢測能力，5-6個數量級的檢測濃度范圍，并且可以批量處理多種元素。隨著ICP的廣泛使用，人們對縮短分析時間和改善復雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。為此，我們開發了兩種類型的產品，使用半導體檢測器的全譜直讀型以縮短分析時間，和高分辨順序掃描型產品改善檢出限。
日本共立紅磷檢測儀描述之規格： 原 理 吸光光度法（LED光電二極管） 顯 示 器 防水型液晶顯示器 精 確 度 ±8% 以內（一定條件下標準液比對） 再 現 性 ± 5% 以內（一定條件下標準液比對） 采樣裝置 3 ml塑料瓶 （測定時僅須1.5ml）
電子天平介紹： 深圳市華得隆電子天平的靈敏性，就是天平能覺察出放在天平衡量盤上的物體質量改變量的能力。電子天平的靈敏性，可以通過角靈敏度，或線靈敏度，或分度靈敏度，或數字（分度）靈敏度來表示。對于電子天平，主要是通過分度靈敏度，或數字靈敏度來表示的。天平能覺察出來的質量改變量越小，則說明天平越靈敏，可見對于電子天平來說，天平的靈敏度依然是判定天平優劣的重要性能之一。
涂層測厚儀描述： 本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬體。
島津微焦X射線透視檢查裝置SMX-1000/1000L MX- 1000/SMX-1000L采用FPD（數字式平板檢出器）和密閉式微焦點X射線管球，可以得到沒有變形和重影的清晰的透視圖像。另外，設備操作軟件在 檢查樣品種類后就可自動設定檢查條件，通過簡單操作就可高效地完成作業。
